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50多項國際四探針測試儀領域的專利,保證業內技術領先!

1.業界最高重復性,重復性≤ ±0.02% (靜態或者標準電阻); 

2.掃描速度最快的四探針電阻率測試儀:一分鐘49個測量點;  

3.最小邊緣修正:即片子邊緣1.5mm以內區域都能測量

体彩p3字谜图谜总汇三句话:美國Creative Design Engineering簡稱CDE,成立于1995年,位于美國加州硅谷的庫比蒂諾 - CupertinoCDE公司專注于四探針設備的生產和銷售,累計銷量達1000臺以上,遍布世界各大半導體Fab, 太陽能光伏企業,大學及科研機構,CDE是四探針領域的領導品牌。

体彩p3五行走势图 www.rbibjt.com.cn CDE的使命是開發和制造生產價值的,高性能,成本低為半導體制計量產品及相關行業

CDE已制造并交付了超過1000 resmap電阻率測試系統,大約24%用于 300mm測量。最近,該公司已交付的太陽能電池的開發和生產支持多個單位。

CDE是位于硅谷的心臟地帶,提供世界范圍內的銷售和服務代表網絡支持。


特點簡述:
CDE ResMap的特點如簡述如下: * 高速穩定及專利自動決定范圍量測與傳送,通過性高 數字測量方式及每點高達4000筆數據搜集,表現良好重復性及再現性 * Windows 操作接口及軟件操作簡單 新制程表現佳(銅制程低電阻率1.67mΩ-cmImplant高電阻2KΩ/□以上,皆可達成高精確度及重復性) * 體積小,占無塵室面積少 校正簡單,且校正周期長 可配合客戶需求,增強功能與適用性 * 300mm 機種可以裝2~4個量測頭,并且可以Recipe設定更換.

CDE 提供自動計算機量測的四點探針阻值量測機臺??燜?,精確與軟件控制下針、軟件功能可最佳化下針壓力,即使薄片量測也不易破裂。自動清針(Probe Conditioning);動作,雙針頭切換。太陽能使用可支持自動Loader,300mm 機臺可使用Front End,最多擴充3個量測單元,支持Semi標準接口。
CDE ResMap–CDE 公司生產之電阻值測試系統是以四探針的工藝,以配合各半導體成光伏生產廠家進出之生產品質監控,超卓可靠又簡易操作的設備是半導體及光伏生產廠家不可缺少的。



美國CDE公司的四探針/方塊電阻/電阻率測試設備:178(最普及型號)

 測量尺寸:晶圓尺寸:2-8寸(273系列可測量大至12寸晶圓,575系列可測量大至450mm 18寸晶圓)世界首款!

               方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm

· 測量范圍: 0.001歐姆/平方 至 500000歐姆/平方(標準型)

· 測量方式: 電腦程序自動測量,或不連電腦單測量主機也可實現測量和數據顯示,此時非常適合測試不規整樣片單點測量,適合實際研究需要。

· 測量的數據: 方塊電阻/電阻率/薄膜厚度,根據具體應用可以設置不同測量程序。

· 測量的點數: 程序編排任意測量點位置及測量點數量,對應不同客戶不同測量要求任意編程測量點位置與數量。

· 測量的精確度<0.1% (標準模阻);

· 測量重復性重復性≤ ±0.02% (靜態或者標準電阻)

· 測量速度>49點/分鐘;

· 測量數據處理:根據需要顯示2D,3D數值圖,或按要求統計并輸出Excel格式文件;

· 邊緣修正:具有邊緣修正功能,即片子邊緣1.5mm以內區域都能測量;

· 軟件控制下針:快速,精確與軟件控制下針、軟件功能可最佳化下針壓力,即使薄片量測也不易破裂。自動清針(Probe Conditioning);動作,雙針頭切換。

· 探針壓力可調范圍軟件控制,90-200克之間可調;

· 可供選擇的探頭類型:根據測試不同工藝要求有A, B,K, M, N等相關型號探頭選擇,另外還可提供專門為客戶定制的應用特殊要求的探針.

· 太陽能使用可支持自動Loader,300mm 機臺可使用Front End,最多擴充3個量測單元,支持Semi標準接口。

 

· 設備應用

IC FAB/FP dispaly/LED:擴散,離子注入等摻雜工藝監控調試,薄膜電阻率或厚度測量等工序,如

Apple ADL Engineering, Inc.ADL Engineering, Inc.Air ProductsAixtron, Inc.Amkor

Amkor Technology Singapore Holding Pte. LtdApplied Materials, Inc.ASE

ASM Microchemistry Ltd.ATMIAtotechAvantor Performance Materials

Beijing NMC Co., Ltd.ChipBond ChipMOS Clarkson University

Fujimi CorporationISMI Giraffe Microelectronics Co. Ltd. (Qinghua University)

Hionix Hynix IBM Inter molecular

JiangSu Lam Research Lam Research SEZ/Aus

Leading Precision, Inc Maxim Integrated Products

MEMC Northrop Grumman PacTech

Powertech Technology Inc. Siltronic Samsung Wafer Pte. Ltd.

Siltronic Spansion SPIL SUMCO TEL NEXX, Inc.TSMC University of California

Intel,IBM,Motorola,TSMC,CSMC,Applied Materials,Sematech,Linear Technology,Tokyo Electronics,Delco Electronics,Lite-On Power,Goldstar,Korea Electronics,Posco Huls,SGS-Thomson,CarborundumCodeon,TRW Space&Electronics,Dynamic Research,EKC Technology,Hughes Aircraft,International Rectifier,LG Display,Semitech,Winbond,,Osram,...

中國購買用戶:

科研客戶:清華大學 北京大學 上海交通大學 天津大學 浙江大學 中山大學 浙江師范大學 ?復旦大學 北京師范大學 河北大學  。。。。。。


Resmap178


Resmap178型四點探針測試儀是專門為光伏電池生產企業設計的一款產品。提供可靠,準確和重復性好的四點探針測試技術。Resmap178已經在太陽能電池襯底和導電薄膜上證明了其測試電阻率的可靠能力。

  

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提供NIST標準片6片!

產品特點:操作簡單、快速精確

電阻測量范圍:1 mΩ/ - 5 MΩ/

典型應用:非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量;選擇性發射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結擴散片;新型電極設計,如電鍍銅電阻測量等

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美國CDE專利技術: 可針對材料(不同材料、軟硬薄膜或離子植入深或淺等條件,對下針狀況最佳化。而此功能是可由軟見操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻煩的硬件調整。

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美國CDE專利技術: 可針對材料(不同材料、軟硬薄膜或離子植入深或淺等條件,對下針狀況最佳化。而此功能是可由軟見操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻煩的硬件調整。

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測試性能指標:



探針材料 WC

探頭壽命> 500W次

測量:

電阻率面掃描2D,3D圖:

      

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成功案例-美國CDE四探針測試儀

感謝以下客戶購買美國美國CDE四探針測試儀

作為半導體行業四探針測試儀測試標準之一,購買美國CDE 四探針測試儀的單位非常多。

 

最近購買用戶

 科研客戶:清華大學,天津大學,浙江大學 中山大學 浙江師范大學 復旦大學 北京師范大學 河北大學  。。。。。。

 企業客戶:上海超日太陽能 卡姆丹克太陽能 南玻光伏 榮馬新能源 山東潤峰電力 江蘇騰暉電力 晶澳太陽能 海潤光伏 常州比太 蘇州阿特斯 西安隆基 高佳太陽能 江西旭陽雷迪 無錫尚德 武漢珈偉光伏 蘇州中導光電 常州天合   。。。。。。

不能一一列舉敬請諒解

品牌: CDE(1)
總共找到2個商品
四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀  四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀  
四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀
四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 查看大圖 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 這款緊湊型儀器在所有軸上均可自動化,可在不到4分鐘內創建100點的薄層電阻和晶圓電阻率映射。 在點擊地圖后將探頭導航到所需位置后,可以重新測量單點。
CDE ResMap 四點探針 (ResMap 178)4探針測試系統(電阻率,面電阻)  
CDE ResMap 四點探針 (ResMap 178)4探針測試系統(電阻率,面電阻)
CDE ResMap 四點探針 (ResMap 178) CDE 提供自動計算機量測的四點探針阻值量測機臺??燜?,精確與軟件控制下針、軟件功能可最佳化下針壓力,即使薄片量測也不易破裂。自動清針(Probe Conditioning);動作,雙針頭切換。太陽能使用可支持自動Loader,300mm 機臺可使用Front End,最多擴充3個量測單元,支持Semi標準接口。